SFiRAによる特徴点抽出手順

標本点数をN、再標本点数Mとし、順序付けられているエッジ点集合をP(N) = {Pi | i = 1, 2, 3, ... , N}とする。ただし、この集合が閉曲線となるようにPN + jPj (j = 1, 2, 3...)として扱う。

  1. Pi - 1Pi + 1を仮想的に結んだ線分とPiとの距離を求め、それをdistiとする。
  2. distiを全ての標本点Pi (i = 1, 2, 3...)について求め、値の小さなものからN - M個を一括して削除し、P(M)を求める。

この方法はDRAと比べて、エッジ点の重要さを計算しなおすことがないため、処理時間が少なくて済むという特徴がある。しかし、その性質上、細かい凹凸のある図形などでは、全体的な特徴よりも、細かい凹凸部分を抽出してしまうという問題もある。