<SFiRAによる特徴点抽出手順>



標本点数をN、再標本点数Mとし、順序付けられているエッジ点集合をP(N)={pi|i=1,2,3,...,N}とする。ただし、この集合が閉曲線となるようにpN+j⇔pj (j=1,2,3...)として扱う。

(1)pi-1とpi+1を仮想的に結んだ線分とpiとの距離を求め、それをdistiとする。

(2)distiを全ての標本点pi(i=1,2,3...)について求め、値の小さなものからN-M個を一括して削除し、P(M)を求める。


この方法はDRAと比べて、エッジ点の重要さを計算しなおすことがないため、処理時間が少なくて済むという特徴がある。しかし、その性質上、細かい凹凸のある図形などでは、全体的な特徴よりも、細かい凹凸部分を抽出してしまうという問題もある。